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Mirage 中红外 OCT 系统是Shou款基于 NORBLIS 超连续谱激光技术的系统,可在散射介质中进行快速、高分辨率的次表面成像,例如:陶瓷;树脂;层压板;涂料;纸张;聚合物等。中红外光源可实现更深的样品穿透,用于无损检测的高分辨率和采集速度。
● 层厚度和均匀性测量
● 检测空隙、分层和其他缺陷
● 3D结构成像
● 涂层检查 - 湿/干膜厚度、裂纹、缺陷、气泡、腐蚀、侵蚀、颗粒分散检测。
● 增材制造 - 陶瓷、树脂、聚合物等的层结构和缺陷可视化。
● 嵌入式结构 - 芯片电路、光纤增强材料中的取向、缺陷和表面粗糙度。
● 伪造品检测——对安全卡、货币和护照中的安全特征进行成像以进行验证。
嵌入信用卡的微芯片
陶瓷中的亚表面结构
典型规格
深度分辨率 | <10 μm |
横向分辨率 | <40 μm |
扫描面积 | 5 mm×5 mm(定制:更大区域,带光纤探头 3Hz 平移) |
扫描图像速率 | 3Hz |
激光波长 | 3.6±0.4 μm |
样品功率 | >10 mW |
探头 | 固定桌面安装(定制:光纤探头) |