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2000nm近红外物镜  

2000nm近红外物镜
在1000-2000nm附近具有高透射率的物镜。用于半导体器件故障分析,以检测漏电流发出的极微弱发射。当红外光从芯片背面穿过硅时,可以很好地观察到高度集成和多层布线的半导体。注:硅校正镜片也可提供。


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产品型号 1
货号 操作 名称
2000nm近红外物镜   [PDF] 放大倍率:20X;工作距离:10mm;焦距(f):10mm;明晰度:1.6um;透射率超过 70%:1000 – 2000nm     价格 : ¥0 库存/货期:请咨询客服
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在1000-2000nm附近具有高透射率的物镜。用于半导体器件故障分析,以检测漏电流发出的极微弱发射。当红外光从芯片背面穿过硅时,可以很好地观察到高度集成和多层布线的半导体。

注:硅校正镜片也可提供。











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