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826–854nmOCT光谱仪


波长范围:826–854 nm;光谱分辨率:0.015 nm;中心波长:约 840 nm;光谱带宽:28 nm

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产品总览

826–854 nm OCT 光谱仪是一款面向SD-OCT(光谱域光学相干断层成像)系统的高速、高分辨率光谱检测模块。产品采用高效率透射光栅和2048像素高速线阵探测器,可实现 0.015 nm 光谱分辨率、12.9 mm空气中轴向测量深度,全像素采集速度z高 61 kHz,1024像素 Binning 模式可达 MAX.101 kHz。产品具有优秀的 Roll-off 性能和紧凑型 OEM 设计,适用于工业OCT、医疗OCT、长距离OCT、3D成像及在线检测系统。

 

产品特点

826–854 nm OCT专用波段

0.015 nm高光谱分辨率

高速采集

优秀的Roll-off性能

 

应用领域

工业OCT检测

医疗OCT成像

3D / Volume OCT

透明及半透明材料内部结构、厚度检测

 

尺寸图


详细参数

技术规格表

参数

指标

工作波长

826–854 nm

中心波长

约 840 nm

光谱带宽

28 nm

光谱分辨率

0.015 nm(全波段平均)

MAX.轴向测量深度

12.9 mm(空气中)

OCT轴向分辨率

约11 μm(空气中)

数值孔径 NA

0.13

光学输入

FC/UPC

像素数量

2048 × 1 pixels

像素尺寸

7 μm × 200 μm

2048像素采集速度

61 kHz

1024 Pixel Binning

101 kHz

数据接口

MIPI CSI-2

ADC

12-bit RAW

工作温度

10~45°C,非冷凝

储存温度

−10~50°C

波长温漂

<0.002 nm/°C

产品尺寸

166 × 138 × 50 mm

产品重量

约1.3 kg

 

OCT Roll-off 性能曲线 


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