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190-435nm LIBS光谱仪


波长范围:190 - 435 nm;光谱分辨率:0.15 - 0.2 nm;波长准确度:< 0.24 nm;

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产品总览

190 - 435nm LIBS光谱仪是一款面向激光诱导击穿光谱(LIBS)及紫外高分辨率光谱检测应用的紧凑型光谱仪。产品覆盖 190 - 435 nm 波长范围,可实现典型 0.15 - 0.2 nm 的光谱分辨率,适合对紫外区域中相邻发射谱线进行识别和分析。光谱仪采用高效率透射光栅及紧凑型 Mirror-Grating-Mirror 光学架构,在较小体积下兼顾高分辨率、高光通量和较好的环境稳定性。产品支持 SMA 光纤输入以及 SPI / USB 2.0 数据接口,方便集成至 LIBS 元素分析仪、便携式光谱分析系统及 OEM 检测设备。

 

产品特点

190 - 435 nm 紫外波段覆盖

高光谱分辨率

紧凑型设计

高波长稳定性

 

应用领域

金属元素成分分析

矿石及矿物成分检测

土壤元素分析

科研光谱分析

 

尺寸图

 

详细参数

技术规格表

参数

指标

波长范围

190 - 435 nm

波长准确度

< 0.24 nm

光谱分辨率

0.15 - 0.2 nm

数值孔径 NA

0.11

狭缝高度

750 µm

杂散光

<0.03%

光学输入类型

SMA 光纤输入

探测器类型

CMOS / BT-CCD

像素数

2048 / 4096

电气接口

SPI / USB 2.0

温度波长漂移

<0.02 nm/°C

工作温度

0 - 50 °C

储存温度

-40 - 65 °C

外形尺寸

61 × 65 × 19 mm

 

衍射效率曲线图



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