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190–1100nmUV-NIR光谱仪


光谱范围:190–1100 nm;光谱分辨率:1.8 nm;波长准确度:≤0.5 nm;数值孔径 NA:0.15;

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产品总览

190–1100 nm UV-NIR光谱仪是一款面向宽带光谱检测和OEM系统集成的紧凑型光谱仪,可在单台设备中覆盖 190–1100 nm 紫外、可见至近红外波段。产品采用 MGM(Mirror-Grating-Mirror)光学结构、高反射率准直/聚焦反射镜及高效率透射光栅,兼顾宽光谱覆盖、较高光通量和良好的环境稳定性。

 

产品特点

超宽光谱覆盖

高光通量设计

高稳定性与低杂散光

紧凑易集成

 

应用领域

UV-VIS-NIR吸收、透射与反射光谱分析

光源与光学器件测试

荧光及发射光谱检测

OEM与工业在线检测

 

尺寸图

 

详细参数

技术规格表

参数

指标

光谱范围

190–1100 nm

波长准确度

≤0.5 nm

典型分辨率

1.8 nm

数值孔径 NA

0.15

单色杂散光

<0.03%

标准狭缝宽度

12.5 / 35 / 50 / 70 / 125 μm

狭缝高度

250 μm;750 μm

光学输入

SMA905 / 自由空间耦合

光学结构

Mirror-Grating-Mirror(MGM)

分光元件

UV-NIR高效率透射光栅

探测器

CMOS / BT-CCD

电气接口

SPI / USB 2.0

温度波长漂移

<0.02 nm/°C

工作温度

0~+50°C,非冷凝

存储温度

-40~+65°C

外形尺寸

54 × 48 × 16 mm

重量

约70 g


衍射效率曲线图






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