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190–850nmUV-VIS光谱仪


光谱范围:190–850 nm;光谱分辨率:1.3 nm;波长准确度:≤0.5 nm;数值孔径 NA:0.15

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产品总览

190–850 nm UV-VIS光谱仪是一款面向紫外-可见光谱分析及OEM系统集成的紧凑型宽带光谱仪,单台设备即可覆盖 190–850 nm 紫外至可见光波段。系统采用高效率透射光栅及 Mirror-Grating-Mirror(MGM)光学结构,在 54 × 48 × 16 mm 的紧凑尺寸内实现宽光谱覆盖、高光通量及稳定的光谱性能。系统采用近无热化结构设计,温度引起的波长漂移<0.02 nm/°C,适用于吸收、透射、反射、荧光以及紫外-可见光谱检测等应用。

 

产品特点

宽光谱覆盖

高分辨率与低杂散光

高光通量与高稳定性

紧凑易集成

 

应用领域

紫外-可见吸收与透射光谱分析

荧光与发射光谱检测

光源与材料表征

OEM与工业在线检测

 

尺寸图

 

详细参数

技术规格表

参数

指标

波长范围

190–850 nm

波长准确度

≤0.5 nm

典型分辨率

1.3 nm

数值孔径 NA

0.15

单色杂散光

<0.03%

标准狭缝宽度

12.5 / 35 / 50 / 70 / 125 μm

狭缝高度

250 μm;750 μm

光学输入

SMA905 / 自由空间耦合

光学结构

Mirror-Grating-Mirror(MGM)

分光元件

高效率透射光栅

探测器

CMOS / BT-CCD

电气接口

SPI / USB 2.0

温度波长漂移

<0.02 nm/°C

工作温度

0~+50°C,非冷凝

存储温度

-40~+65°C

外形尺寸

54 × 48 × 16 mm

重量

约70 g

 

衍射效率曲线图






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