190–850 nm UV-VIS光谱仪是一款面向紫外-可见光谱分析及OEM系统集成的紧凑型宽带光谱仪,单台设备即可覆盖 190–850 nm 紫外至可见光波段。系统采用高效率透射光栅及 Mirror-Grating-Mirror(MGM)光学结构,在 54 × 48 × 16 mm 的紧凑尺寸内实现宽光谱覆盖、高光通量及稳定的光谱性能。系统采用近无热化结构设计,温度引起的波长漂移<0.02 nm/°C,适用于吸收、透射、反射、荧光以及紫外-可见光谱检测等应用。
产品特点
宽光谱覆盖
高分辨率与低杂散光
高光通量与高稳定性
紧凑易集成
应用领域
紫外-可见吸收与透射光谱分析
荧光与发射光谱检测
光源与材料表征
OEM与工业在线检测
尺寸图

详细参数
技术规格表
参数 | 指标 |
波长范围 | 190–850 nm |
波长准确度 | ≤0.5 nm |
典型分辨率 | 1.3 nm |
数值孔径 NA | 0.15 |
单色杂散光 | <0.03% |
标准狭缝宽度 | 12.5 / 35 / 50 / 70 / 125 μm |
狭缝高度 | 250 μm;750 μm |
光学输入 | SMA905 / 自由空间耦合 |
光学结构 | Mirror-Grating-Mirror(MGM) |
分光元件 | 高效率透射光栅 |
探测器 | CMOS / BT-CCD |
电气接口 | SPI / USB 2.0 |
温度波长漂移 | <0.02 nm/°C |
工作温度 | 0~+50°C,非冷凝 |
存储温度 | -40~+65°C |
外形尺寸 | 54 × 48 × 16 mm |
重量 | 约70 g |
衍射效率曲线图

