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1100-2100nmXNIR光谱仪


光谱范围:1100-2100 nm;光谱分辨率:5.6 / 8.7 / 12.8 nm;波长准确度:<0.5 nm

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产品总览

100-2100nm XNIR光谱仪是一款面向扩展近红外分析与工业OEM集成应用设计的高通量光谱仪,采用高效率透射光栅和两级TE制冷扩展型InGaAs线阵探测器,覆盖 1100-2100 nm 波段。产品Max. 数值孔径达 NA 0.22,典型光谱分辨率可配置为 5.6-12.8 nm,兼具高灵敏度、低杂散光、高动态范围和良好的温度稳定性。支持SMA光纤输入及SPI/USB 2.0通信接口,适合食品农业、制药、过程分析、生命科学、材料分析及工业在线检测等应用。

 

产品特点

1100-2100 nm扩展近红外覆盖

高通量设计

两级TE制冷扩展型InGaAs探测器

稳定可靠的工业级性能

 

应用领域

食品与农业检测

制药及过程分析

材料与化工分析

医疗与生命科学

 

尺寸图

 

详细参数

技术规格表

参数

指标

光谱范围

900-1700 nm

探测器像素

256 × 1 / 512 × 1

典型分辨率

3.3 / 7.0 / 10.0 nm

波长准确度

<0.5 nm

数值孔径NA

0.22

入口狭缝

25 / 70 / 150 μm

狭缝高度

500 μm

杂散光

<0.03%

典型信噪比

9000:1

典型动态范围

12000:1

ADC

16 bit

曝光时间

1.2 μs-859 s

通信接口

SPI / USB 2.0

温度波长漂移

<0.02 nm/°C

工作温度

0-50°C

储存温度

-40-85°C

光谱仪尺寸

123 × 148 × 52 mm

 

衍射效率曲线图






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