100-2100nm XNIR光谱仪是一款面向扩展近红外分析与工业OEM集成应用设计的高通量光谱仪,采用高效率透射光栅和两级TE制冷扩展型InGaAs线阵探测器,覆盖 1100-2100 nm 波段。产品Max. 数值孔径达 NA 0.22,典型光谱分辨率可配置为 5.6-12.8 nm,兼具高灵敏度、低杂散光、高动态范围和良好的温度稳定性。支持SMA光纤输入及SPI/USB 2.0通信接口,适合食品农业、制药、过程分析、生命科学、材料分析及工业在线检测等应用。
产品特点
1100-2100 nm扩展近红外覆盖
高通量设计
两级TE制冷扩展型InGaAs探测器
稳定可靠的工业级性能
应用领域
食品与农业检测
制药及过程分析
材料与化工分析
医疗与生命科学
尺寸图

详细参数
技术规格表
参数 | 指标 |
光谱范围 | 900-1700 nm |
探测器像素 | 256 × 1 / 512 × 1 |
典型分辨率 | 3.3 / 7.0 / 10.0 nm |
波长准确度 | <0.5 nm |
数值孔径NA | 0.22 |
入口狭缝 | 25 / 70 / 150 μm |
狭缝高度 | 500 μm |
杂散光 | <0.03% |
典型信噪比 | 9000:1 |
典型动态范围 | 12000:1 |
ADC | 16 bit |
曝光时间 | 1.2 μs-859 s |
通信接口 | SPI / USB 2.0 |
温度波长漂移 | <0.02 nm/°C |
工作温度 | 0-50°C |
储存温度 | -40-85°C |
光谱仪尺寸 | 123 × 148 × 52 mm |
衍射效率曲线图

